本發(fā)明涉及一種可檢測(cè)航發(fā)渦輪盤晶粒尺寸分布的超聲無損檢測(cè)方法,包括以下步驟:1)采用超聲檢測(cè)系統(tǒng)和水浸超聲聚焦探頭對(duì)航發(fā)渦輪盤鎳基高溫合金試塊掃查采集超聲背散射信號(hào),并采用石英玻璃得到超聲參考信號(hào);2)分別對(duì)超聲背散射信號(hào)和參考信號(hào)進(jìn)行傅里葉變換得到頻域曲線;3)根據(jù)頻域曲線計(jì)算超聲背散射系數(shù)實(shí)驗(yàn)曲線,并根據(jù)理論模型計(jì)算背散射系數(shù)理論曲線;4)將超聲背散射系數(shù)實(shí)驗(yàn)和理論曲線在一定頻率范圍內(nèi)擬合得到晶粒平均尺寸;5)將掃查區(qū)域分成若干小的方形區(qū)域,計(jì)算每個(gè)小的方形區(qū)域內(nèi)的晶粒平均尺寸,得到晶粒尺寸二維分布圖像。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了航空發(fā)動(dòng)機(jī)渦輪盤晶粒尺寸分布的二維快速成像,檢測(cè)精度高。
聲明:
“可檢測(cè)航發(fā)渦輪盤晶粒尺寸分布的超聲無損檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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