本發(fā)明公開(kāi)了一種無(wú)損檢測(cè)農(nóng)產(chǎn)品光學(xué)特性參數(shù)的方法與裝置。通過(guò)空間頻域成像獲得被測(cè)樣品的光學(xué)特性參數(shù)信息初始值,通過(guò)相位測(cè)量輪廓術(shù)獲得被測(cè)樣品的表面高度信息,利用標(biāo)準(zhǔn)反射板的表面高度信息對(duì)被測(cè)樣品的光學(xué)特性參數(shù)信息初始值進(jìn)行修正,獲得被測(cè)樣品修正后的光學(xué)特性參數(shù),利用半球形固體仿體替換被測(cè)樣品重復(fù)上述步驟處理并計(jì)算獲得光學(xué)特性參數(shù)擬合系數(shù),計(jì)算得到被測(cè)樣品農(nóng)產(chǎn)品的最終光學(xué)特性參數(shù)值;裝置包括投影儀、中性密度片、兩塊偏振片、電動(dòng)平移臺(tái)、濾光片和CCD相機(jī)等構(gòu)成的投影部分、成像部分以及樣品臺(tái)部分。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)農(nóng)產(chǎn)品光學(xué)特性參數(shù)的無(wú)損檢測(cè),具有成像范圍大,精度較高,成本低,操作簡(jiǎn)單的優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“無(wú)損檢測(cè)農(nóng)產(chǎn)品光學(xué)特性參數(shù)的方法與裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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