本實(shí)用新型提供了一種超聲波無(wú)損檢測(cè)模擬教具,包括模擬組件、放置模擬組件的測(cè)試箱、與測(cè)試箱相配合的測(cè)試箱蓋,所述模擬組件上設(shè)有測(cè)試a通孔,所述模擬組件為裂縫組件、空洞組件、不同密實(shí)度組件中的一種或兩種以上;所述測(cè)試箱蓋上設(shè)有與模擬組件a通孔相對(duì)應(yīng)的b通孔。所述測(cè)試箱包括置物框和套筒,所述置物框從上至下設(shè)有若干置物層,所述置物層在相對(duì)位置上均設(shè)有與模擬組件a通孔相對(duì)應(yīng)的c通孔,超聲波探頭穿過(guò)測(cè)試箱蓋的b通孔進(jìn)行測(cè)試模擬組件;所述置物框底面設(shè)有第一凹槽,所述套筒的底部嵌入第一凹槽。本實(shí)用新型實(shí)現(xiàn)自組裝超聲波無(wú)損檢測(cè)模擬教具,方便攜帶,有效提高教學(xué)效率。
聲明:
“超聲波無(wú)損檢測(cè)模擬教具” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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