本申請涉及無損檢測的技術(shù)領(lǐng)域公開了一種相控陣無損檢測試塊支架,其包括圓弧形的支架本體和試塊,支架本體上開設(shè)有容納試塊的凹槽,試塊位于凹槽中,試塊上固定連接有連接桿,凹槽的槽底上開設(shè)有供連接桿穿過的通孔,連接桿遠(yuǎn)離試塊的一端穿出通孔,連接桿上開設(shè)有第一條形孔,第一條形孔中插接有楔形塊,楔形塊與支架本體抵觸。本申請通過設(shè)置支架本體、試塊、連接桿和楔形塊,減少了工作人員將試塊安裝至凹槽中所需時(shí)間,進(jìn)而提高了工作人員將試塊安裝至凹槽中的工作效率。
聲明:
“相控陣無損檢測試塊支架” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)