本發(fā)明涉及集成電路中罕見向量序列激活型硬件木馬的無損檢出方法。該方法包括:為待測集成電路提供相應(yīng)測試環(huán)境;為待測集成電路產(chǎn)生罕見向量序列;以罕見向量序列激勵(lì)待測集成電路,測試待測集成電路的特性參數(shù)和功能作用是否異常,如果異常,檢出被植入硬件木馬的集成電路并記錄破壞方式?;诒景l(fā)明,可以使被植入硬件木馬的集成電路在進(jìn)入應(yīng)用系統(tǒng)前被檢出,避免應(yīng)用系統(tǒng)受到硬件木馬的威脅,保證重要系統(tǒng)中關(guān)鍵設(shè)備的安全。
聲明:
“集成電路中罕見向量序列激活型硬件木馬的無損檢出方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)