本發(fā)明公開(kāi)了一種基于哈爾小波的晶粒尺寸無(wú)損評(píng)價(jià)方法,所述方法通過(guò)對(duì)參考試塊進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,利用哈爾小波變換得到時(shí)間-尺度分布,進(jìn)一步計(jì)算各個(gè)參考模塊的平均多尺度衰減系數(shù),再結(jié)合預(yù)設(shè)尺度組合以及預(yù)設(shè)歸一化權(quán)重建立平均晶粒尺寸超聲多尺度衰減評(píng)價(jià)模型,最后利用建立的平均晶粒尺寸超聲多尺度衰減評(píng)價(jià)模型對(duì)晶粒尺寸未知的試塊進(jìn)行晶粒尺寸評(píng)價(jià)。該方法能夠降低晶粒尺寸測(cè)量的系統(tǒng)誤差,對(duì)金相法測(cè)得平均晶粒尺寸為103.5μm的測(cè)試試塊,評(píng)價(jià)的結(jié)果為101.7μm,誤差控制在±2%,可見(jiàn),通過(guò)對(duì)原始超聲A波信號(hào)的多尺度分析,本發(fā)明的方法能發(fā)現(xiàn)原始超聲A波信號(hào)中更豐富的晶粒尺寸信息,進(jìn)而提高晶粒尺寸無(wú)損評(píng)價(jià)的精度。
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“基于哈爾小波的晶粒尺寸無(wú)損評(píng)價(jià)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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