本發(fā)明涉及一種使用光學(xué)方法快速判斷近似均勻的非透明介質(zhì)中是否存在異質(zhì)體并確定異質(zhì)體位置和大小的方法,屬于光學(xué)無損檢測領(lǐng)域,包括:使用多個檢測器對光源經(jīng)近似均勻的非透明被測物體后的出射光進行檢測,在多個檢測器獲得被測物體差分光密度(ΔOD)的基礎(chǔ)上,對差分光密度差異(ΔOD’)進行計算,并對差分光密度差異曲線的特征參數(shù)進行提取,根據(jù)所提取的特征參數(shù)判定介質(zhì)中是否存在異質(zhì)體以及異質(zhì)體的橫向和縱向位置。本發(fā)明的有益效果是:為基于光學(xué)檢測近似均勻的非透明介質(zhì)中異質(zhì)體檢測技術(shù)提供最佳光源?探測器放置位置的輔助參考,其準(zhǔn)確的光源?探測器定位將有效提高光學(xué)無損檢測的精度;同時,本方法可作為快速評估介質(zhì)內(nèi)是否含有異質(zhì)體的有效輔助手段。
聲明:
“用于檢測近似均勻的非透明介質(zhì)中異質(zhì)體的快速定位方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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