本發(fā)明提供了一種
太陽(yáng)能電池片制絨質(zhì)量檢測(cè)方法,包括以下步驟:在待測(cè)制絨硅片上確定檢測(cè)區(qū)域;用OCT系統(tǒng)對(duì)檢測(cè)區(qū)域進(jìn)行掃描,得到檢測(cè)區(qū)域的三維圖像;通過對(duì)圖像進(jìn)行處理得到制絨硅片上絨面的均勻性情況以及反射率信息;通過絨面均勻性和反射率參數(shù)來綜合評(píng)價(jià)
電池片制絨質(zhì)量。本發(fā)明可以實(shí)現(xiàn)非接觸、無(wú)損傷、高靈敏度、微米量級(jí)分辨率、實(shí)時(shí)的檢測(cè),大大降低了檢測(cè)成本;本發(fā)明方法不僅能夠得到絨面金字塔峰不同高度的分布情況,判斷絨面均勻性,且能夠同時(shí)得到制絨硅片反射率信息,判斷硅片陷光能力,從而更加方便和全面的判斷制絨效果的好壞。
聲明:
“太陽(yáng)能電池片制絨質(zhì)量檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)