本發(fā)明提供一種基于脈沖渦流陣列的缺陷檢測裝置及方法,涉及無損檢測技術(shù)領(lǐng)域。本方法的過程如下:信號發(fā)生器產(chǎn)生周期性脈沖信號,經(jīng)功率放大器放大后,施加到激勵線圈兩端。檢測線圈陣列單元采集被測試件上方磁場信號,輸出給信號調(diào)理單元;信號調(diào)理單元對信號進行濾波、放大后輸出給A/D轉(zhuǎn)換單元,最后,送入DSP數(shù)據(jù)處理模塊,求取缺陷的尺寸信息。本發(fā)明裝置對檢測陣列數(shù)據(jù)了進行了聚類和均值處理,有效抑制了檢測陣列線圈傾斜或提離對缺陷檢測的影響;采用了一個線圈作為激勵、多個檢測線圈組成陣列的結(jié)構(gòu),即減小了磁場的干擾,又實現(xiàn)了更為全面的缺陷信息檢測;將時域特征量和頻域特征量相結(jié)合,提高了缺陷檢測精度。
聲明:
“基于脈沖渦流陣列的缺陷檢測裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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