本發(fā)明公開了一種融合本征先驗知識的熒光檢測方法和系統(tǒng),采用目標分析物的熒光本征衰減函數(shù)作為本征先驗知識融入人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)以建立目標分析物特征信息提取模型,將模型寫入光譜信息處理模塊,模塊嵌入陣列式熒光光譜儀以完成融合本征先驗知識的陣列式熒光光譜檢測系統(tǒng)開發(fā)。本發(fā)明檢測方法為熒光本征先驗知識的綜合利用提供一種途徑,實現(xiàn)了目標分析物更具針對性的檢測,為工業(yè)快速無損檢測設(shè)備提供支持,檢測針對性強,檢測準確度高。
聲明:
“融合本征先驗知識的熒光檢測方法和系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)