本實(shí)用新型提供一種無接觸式太陽能晶片晶體類型自動檢測系統(tǒng),包括自動傳送模塊、電源模塊、圖像采集模塊、圖像處理模塊。在整個(gè)檢測過程中該系統(tǒng)與晶片不發(fā)生接觸,對晶片表面沒有任何傷害,在2秒內(nèi)就能完成晶片定位,圖像采集,圖像分析計(jì)算準(zhǔn)單晶晶片晶粒大小和晶界數(shù)量,按照晶粒大小和晶界數(shù)量進(jìn)行晶片類別歸類等任務(wù),具有操作簡便、無損晶片、檢測效率高等特點(diǎn)。
聲明:
“無接觸式太陽能晶片晶體類型自動檢測系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)