本發(fā)明提供了硫代巴比妥酸多晶型的太赫茲光譜檢測方法。本發(fā)明的解決了現(xiàn)有檢測方法中存在的樣品制備繁瑣、分析復雜、光子能量高可能導致晶型轉(zhuǎn)變的問題。本專利利用溶劑重結(jié)晶法制得硫代巴比妥酸多晶型,再利用太赫茲時域光譜技術(shù)對硫代巴比妥酸多晶型進行測量,得到它們在的太赫茲波段的光學參數(shù)。本發(fā)明用太赫茲時域光譜技術(shù)測定樣品方法簡單、快捷、無損。
聲明:
“硫代巴比妥酸多晶型的太赫茲光譜檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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