本發(fā)明公開(kāi)了一種基于機(jī)器視覺(jué)的電子元件檢查方法,包括如下步驟:步驟一、收集電子元件表面的損害圖像樣本和電子元件無(wú)損害的圖像樣本,同時(shí)收集電子元件表面的損害圖像樣本對(duì)應(yīng)的超聲波探傷信號(hào)以及電子元件無(wú)損害的圖像樣本對(duì)應(yīng)的超聲波探傷信號(hào);步驟二、對(duì)電子元件表面的損害圖像的損壞種類進(jìn)行人工標(biāo)注,得到標(biāo)注后的電子元件表面的損害圖像樣本。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了對(duì)電子元件的視覺(jué)檢測(cè)與超聲檢測(cè)相結(jié)合的自動(dòng)檢測(cè)方法,通過(guò)兩種檢測(cè)方法結(jié)合,大大提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確性,此外實(shí)現(xiàn)了電子元件的自動(dòng)檢測(cè),節(jié)省了人工,有效降低了漏檢率。
聲明:
“基于機(jī)器視覺(jué)的電子元件檢查方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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