本發(fā)明涉及無損檢測領(lǐng)域,具體涉及一種用于相控陣超聲探頭晶片有效性的測試及評價(jià)方法。采用相控陣超聲儀器激發(fā)相控陣探頭晶片中每個(gè)晶片產(chǎn)生超聲波入射到相控陣探頭楔塊底面產(chǎn)生的回波信號,通過回波信號的幅度判定晶片的有效性。本發(fā)明方法操作簡單、實(shí)用,便于攜帶,無輻射,無污染,在檢測過程中能及時(shí)測試晶片的好壞,能保證檢測靈敏度和檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性,也能提高檢測效率。適宜作為相控陣超聲探頭晶片有效性的測試及評價(jià)方法的應(yīng)用。
聲明:
“用于相控陣超聲探頭晶片有效性的測試及評價(jià)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)