本發(fā)明公開了一種共面電容式聚合物分子取向測量裝置及方法,其中該測量裝置包括傳感器探頭陣列(10)、電容測量單元(13)、以及取向計(jì)算模塊(14),其中,傳感器探頭陣列(10)包括多組共面電極;任意一組共面電極均包括至少兩個(gè)導(dǎo)電電極;電容測量單元(13)用于測量同一共面電極內(nèi)的任意兩個(gè)導(dǎo)電電極之間的電容,并得到多組電容數(shù)據(jù);取向計(jì)算模塊(14)則用于根據(jù)多組電容數(shù)據(jù)計(jì)算待測量聚合物的分子取向。本發(fā)明利用聚合物材料介電性能的各向異性,通過共面電極結(jié)構(gòu)測量聚合物分子取向,建立了取向?介電?電容三者的關(guān)系,適用于各類聚合物,屬于無損檢測,具有精度高、響應(yīng)快、非侵入式等特點(diǎn)。
聲明:
“共面電容式聚合物分子取向測量裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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