本發(fā)明提供了一種測量涂層孔隙率模型的建立方法及該模型的使用方法,其中測量涂層孔隙率模型根據(jù)SEM照片原位建模原理構建,較其他方法更接近涂層中孔隙的實際形貌,孔隙率不同的模型孔隙形貌基本保持一致,且遵循了控制單一變量的原則,使得孔隙率僅隨縱波聲速變化,研究結果更具針對性、嚴密性和說服力。測量涂層孔隙率模型的使用方法為通過對涂層的超聲反射回波信號幅度譜進行分析,得到不同孔隙率下的涂層縱波聲速變化率,進而根據(jù)關系模型,確定涂層的孔隙率。本發(fā)明測量過程對涂層無損,且測量誤差小。
聲明:
“測量涂層孔隙率模型的建立方法及該模型的使用方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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