本發(fā)明公開了一種測量DKDP晶體氘含量均勻性的方法。本發(fā)明利用ν
1模拉曼頻移作為表征DKDP晶體氘含量的參量,通過顯微共聚焦拉曼光譜測量系統(tǒng)測量DKDP晶體不同位置ν
1模的拉曼頻移獲得該晶體氘含量的空間分布,進(jìn)而可以對其氘含量均勻性進(jìn)行評估,該測量方法操作簡便,降低了儀器測量誤差、DKDP晶體表面氘含量衰減、數(shù)據(jù)處理誤差及周圍環(huán)境等因素的影響,實(shí)現(xiàn)了DKDP晶體氘含量均勻性的在線無損測量。
聲明:
“測量DKDP晶體氘含量均勻性的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)