本發(fā)明公開了一種二端口微帶器件測(cè)試裝置,其包括X軸位移平臺(tái)、射頻連接器載臺(tái)A、射頻連接器載臺(tái)B、Z軸位移平臺(tái)A、Z軸位移平臺(tái)B,X軸位移平臺(tái)、承托板載臺(tái)A和承托板載臺(tái)B、承托板、滾珠彈簧螺絲和待測(cè)件載臺(tái);其中,所述射頻連接器載臺(tái)A和射頻連接器載臺(tái)B能夠在所述X軸位移平臺(tái)沿X方向移動(dòng);滾珠彈簧螺絲設(shè)置于所述承托板載臺(tái)A和承托板載臺(tái)B的腔體內(nèi)且位于所述承托板下方;待測(cè)件載臺(tái)位于所述射頻連接器載臺(tái)A和射頻連接器載臺(tái)B之間的承托板上。通過本發(fā)明,可快速高效完成器件測(cè)試,且使用壓接的方法完成微帶線的連接,不需要焊接,無損測(cè)試;且適用于各種微帶線器件,不同長(zhǎng)度、不同寬度和不同介質(zhì)厚度均可使用。
聲明:
“二端口微帶器件測(cè)試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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