本發(fā)明涉及一種基于二維拉曼光譜的顆粒粒度測量方法,包括:對于某種顆粒物質(zhì),選取已知顆粒粒度的各組顆粒物質(zhì),每組顆粒物質(zhì)為相同顆粒粒度的顆粒物質(zhì),采集已知顆粒的各組顆粒物質(zhì)的二維拉曼光譜;截取每組顆粒物質(zhì)的特征拉曼譜峰;利用二維數(shù)據(jù)擬合方法獲取特征拉曼譜峰的數(shù)學(xué)表達(dá)式;提取特征拉曼譜峰的半峰寬度W;擬合出顆粒物質(zhì)的顆粒粒度P與半峰寬度W之間的關(guān)系式;對于待測量顆粒粒度的此種顆粒物質(zhì),采集其二維拉曼光譜,按照上述二維數(shù)據(jù)擬合分析的步驟,得到其半峰寬度W,然后,根據(jù)顆粒物質(zhì)的顆粒粒度P與半峰寬度W之間的關(guān)系式,實現(xiàn)顆粒粒度P的測量。本發(fā)明可以簡單、快速、無損地測量出物質(zhì)的顆粒粒度。
聲明:
“基于二維拉曼光譜的顆粒粒度測量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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