本發(fā)明提供一種光學材料折射率的精密測量裝置及方法,該裝置及方法能夠?qū)崿F(xiàn)寬光譜分析法和法布里-珀羅干涉法的結(jié)合,通過全局殘差分析,得到精確的光學材料厚度和折射率,通過對寬光譜法布里-珀羅干涉系統(tǒng)進行光譜分析,可以得出某個連續(xù)波段下光學材料的折射率色散曲線。本發(fā)明提高了折射率的測量精度,利用絕大多數(shù)光學材料自身的平行平板結(jié)構(gòu)形成穩(wěn)定的干涉腔,減小了空氣擾動對干涉信號穩(wěn)定性的影響,避免了將光學材料加工為特殊的形狀,實現(xiàn)了光學材料的無損測量。
聲明:
“光學材料折射率的精密測量裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)