本發(fā)明公開了一種GIS設(shè)備X射線數(shù)字圖像雙屏對比分析診斷方法,在得到運行有疑似缺陷的GIS設(shè)備經(jīng)X射線檢測后的有疑似缺陷檢測圖像文件后,將之與附近運行正常的GIS設(shè)備經(jīng)X射線檢測后的正常檢測圖像文件對比分析,或者將之與GIS設(shè)備新建之初經(jīng)X射線檢測后的備案檢測圖像文件對比分析,具體處理方式為:將有疑似缺陷圖像文件和正常檢測圖像文件/備案檢測圖像文件分別顯示對比分析。本發(fā)明采用雙屏法對有疑似缺陷檢測圖像文件和正常檢測圖像文件/備案檢測圖像文件進行分別顯示,與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有視野范圍廣,兩個圖像文件易對比分析,可同時調(diào)整灰度,分辨率無損失,以及防漏檢等優(yōu)點,可實現(xiàn)數(shù)據(jù)庫資源有效利用。
聲明:
“GIS設(shè)備X射線數(shù)字圖像雙屏對比分析診斷方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)