本發(fā)明公開了一種樣品中氚的BIXS方法分析裝置,其包括操作臺、真空筒、導(dǎo)軌、探測器安裝座、X射線探測器、樣品臺、電阻真空計、薄膜氣壓計;所述真空筒位于操作臺上方,所述導(dǎo)軌設(shè)置在操作臺上方并且位于真空筒內(nèi),所述探測器安裝座滑動設(shè)置在導(dǎo)軌上,所述X射線探測器設(shè)置在探測器安裝座上,所述樣品臺設(shè)置在操作臺上方并且位于真空筒內(nèi)以及X射線探測器下側(cè),所述電阻真空計、薄膜氣壓計分別設(shè)置在真空筒的兩側(cè)并且延伸至真空筒內(nèi)。本發(fā)明充分利用了β射線與物質(zhì)相互作用的特點,結(jié)構(gòu)簡單、體積小、價格便宜、檢測速度快、靈敏度高、且支持在真空及充氬氣兩種不同情況下進(jìn)行實驗;具有對樣品分析無損的特點,且操作簡單,對實驗人員無傷害的優(yōu)勢;分別選用真空及充氬氣兩種方法實現(xiàn)對樣品的分析;所占空間小,易于移動,對于有氚分析需求的各高校及相關(guān)科研單位是一個很理想的選擇。
聲明:
“樣品中氚的BIXS方法分析裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)