本實用新型提供一種CSK-IA類試塊,其結(jié)構(gòu)是一長不大于300MM,寬不大于150MM,高不大于40MM的長方體,其中試塊體左下角加工有圓角,有一定的曲率半徑,一般不大于180MM;在試塊的中間垂直鉆有數(shù)量不等的孔,根據(jù)需要還可以設(shè)置一些槽。該類試塊和現(xiàn)有技術(shù)相比,具有設(shè)計合理、結(jié)構(gòu)簡單、制造精度高、測試范圍寬、使用方便等特點,因而在無損檢測行業(yè)具有很好的推廣使用價值。
聲明:
“CSK-IA類試塊” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)