本發(fā)明屬于無損檢測相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域,其公開了一種交叉線圈式磁致伸縮扭轉(zhuǎn)導(dǎo)波傳感器結(jié)構(gòu)參數(shù)的優(yōu)化方法,該方法包括以下步驟:(1)提供實驗平臺,并分別確定所述實驗平臺中的激勵傳感器的最佳激勵偏置磁場強度及接收傳感器的最佳接收偏置磁場強度;(2)基于最佳激勵偏置磁場強度、最佳接收偏置磁場強度及固定覆蓋率,分別確定激勵傳感器的環(huán)形線圈的最佳線徑及接收傳感器的環(huán)形線圈的最佳線徑;(3)分別基于得到的最佳線徑及磁場強度計算公式計算得到激勵傳感器的環(huán)形線圈的設(shè)計匝數(shù)及接收傳感器的環(huán)形線圈的設(shè)計匝數(shù),由此完成結(jié)構(gòu)參數(shù)的優(yōu)化,所述結(jié)構(gòu)參數(shù)包括環(huán)形線圈的線徑及匝數(shù)。本發(fā)明提高了傳感器的換能效率,適用性較強。
聲明:
“交叉線圈式磁致伸縮扭轉(zhuǎn)導(dǎo)波傳感器結(jié)構(gòu)參數(shù)的優(yōu)化方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)