本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N絕緣子表面RTV涂層涂覆效果評(píng)估方法、裝置及系統(tǒng),利用當(dāng)待測(cè)絕緣子表面RTV涂層被加熱后,待測(cè)絕緣子表面RTV涂層的內(nèi)部由于涂層厚度不均勻的情況存在,溫場(chǎng)在趨于熱平衡的過(guò)程中變化方式不同,其表面溫場(chǎng)的變化方式也不同,通過(guò)主動(dòng)紅外熱像評(píng)估方法采集分析上述信息來(lái)確定待測(cè)絕緣子表面RTV涂層的涂層夾雜和涂層厚度均勻性信息,進(jìn)而對(duì)待測(cè)絕緣子表面RTV涂層涂覆效果進(jìn)行整體評(píng)估,而且能夠做到無(wú)損評(píng)估,不會(huì)對(duì)待測(cè)絕緣子表面RTV涂層造成破壞和污染。
聲明:
“絕緣子表面RTV涂層涂覆效果評(píng)估方法、裝置及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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