本發(fā)明公開了一種判別光學(xué)異構(gòu)體旋光性的近紅外光譜分析方法,先在一定的測(cè)量條件下采集光學(xué)異構(gòu)體各左旋體樣品和右旋體樣品的近紅外光譜,所得光譜不進(jìn)行預(yù)處理或進(jìn)行化學(xué)計(jì)量學(xué)預(yù)處理,從所得光譜數(shù)據(jù)中選擇建模光譜范圍,對(duì)所選光譜范圍的數(shù)據(jù)進(jìn)行降維后,采用化學(xué)計(jì)量學(xué)方法建立并驗(yàn)證光學(xué)異構(gòu)體的旋光性判別模型;然后取未知旋光性的光學(xué)異構(gòu)體樣品,按照前述相同方法采集近紅外光譜并進(jìn)行光譜數(shù)據(jù)的多步驟處理,最后應(yīng)用所建模型進(jìn)行光學(xué)異構(gòu)體的旋光性判別。本發(fā)明基于光學(xué)異構(gòu)體的近紅外光譜,結(jié)合化學(xué)計(jì)量學(xué)技術(shù),判別光學(xué)異構(gòu)體的旋光性,具有準(zhǔn)確、簡(jiǎn)便、快速、無損的優(yōu)點(diǎn)。
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“判別光學(xué)異構(gòu)體旋光性的近紅外光譜分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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