本發(fā)明公開(kāi)了一種用于檢測(cè)線路板過(guò)孔CAF失效性的測(cè)試方法,包括:提供一個(gè)測(cè)試板,測(cè)試板的過(guò)孔大小、過(guò)孔的間距、走線的寬度,與待測(cè)試的線路板的過(guò)孔大小、過(guò)孔間距、走線寬度相同;測(cè)量測(cè)試板的過(guò)孔電阻值,為初始電阻值;將測(cè)試板放入冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)設(shè)備,并采用第一溫度和第二溫度循環(huán)實(shí)驗(yàn);取出測(cè)試板,放置室溫下靜置;使用電阻測(cè)試儀測(cè)量測(cè)試板的過(guò)孔電阻值,為實(shí)驗(yàn)電阻值;直至測(cè)試的實(shí)驗(yàn)電阻值與初始電阻值的變化率不低于設(shè)定閾值,推算失效時(shí)間。本發(fā)明使用測(cè)試板模擬待測(cè)試的線路板的線路狀態(tài),并且對(duì)測(cè)試板進(jìn)行冷熱沖擊實(shí)驗(yàn),得到退化失效的測(cè)試數(shù)據(jù),推算出待測(cè)試線路板的失效和退化時(shí)間,方便優(yōu)化線路板的設(shè)計(jì),提高產(chǎn)品的可靠性。
聲明:
“用于檢測(cè)線路板過(guò)孔CAF失效性的測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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