8mm基片集成波導(dǎo)環(huán)行器失效率檢測方法,涉及微波器件技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明包括下述步驟:1)確定SIW結(jié)構(gòu)失效率λG1:2)確定金屬通孔失效率λG2:3)確定SIW轉(zhuǎn)微帶失效率λG3:4)確定鐵氧體圓柱失效率λG4:5)確定永磁體失效率λG5;6)以下式確定環(huán)行器整體失效率λsp:λsp=λG1+λG2+λG3+λG4+λG5本發(fā)明的有益效果是:檢測結(jié)果可靠,適用范圍廣。
聲明:
“8mm基片集成波導(dǎo)環(huán)行器失效率檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)