一種解決存儲(chǔ)器局部失效的方法,是通過(guò)邏輯IC或ASIC
芯片本身的邏輯電路對(duì)存儲(chǔ)器以緩沖區(qū)為單位進(jìn)行自檢,如果該緩沖區(qū)的所有存儲(chǔ)單元的自檢結(jié)果是全部正常,則在自檢結(jié)束后將其首地址寫(xiě)入空閑緩沖區(qū)隊(duì)列中,供以后使用該緩沖區(qū);如果檢測(cè)到某個(gè)緩沖區(qū)有失效的存儲(chǔ)單元,則其首地址將不被寫(xiě)入空閑緩沖區(qū)隊(duì)列中,使該緩沖區(qū)在邏輯IC或ASIC芯片的正常工作中將永遠(yuǎn)不會(huì)被訪問(wèn);在自檢的同時(shí),還對(duì)失效緩沖區(qū)進(jìn)行計(jì)數(shù),并在自檢結(jié)束后,讀取該計(jì)數(shù)值及根據(jù)失效緩沖區(qū)的多少作相應(yīng)處理:當(dāng)失效緩沖區(qū)沒(méi)有或很少,對(duì)系統(tǒng)功能或性能影響很小時(shí),該單板可照常工作;當(dāng)失效緩沖區(qū)的數(shù)目較大時(shí),才向系統(tǒng)發(fā)出告警信號(hào)請(qǐng)求維修或更換單板。
聲明:
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