本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N失效位元的修補(bǔ)方案的確定方法,應(yīng)用于包含多個(gè)子域的
芯片,該芯片還包括冗余電路,該冗余電路用于修補(bǔ)子域中的失效位元,該方法包括:在為子域中的當(dāng)前待修補(bǔ)的目標(biāo)失效位元確定一個(gè)或者多個(gè)可用冗余電路之后,從冗余電路的可靠性列表中獲取各可用冗余電路的可靠性值,該冗余電路的可靠性列表中包括多個(gè)冗余電路的可靠性值,根據(jù)該可用冗余電路的可靠性值確定子域中的目標(biāo)失效位元的修補(bǔ)方案。其中,冗余電路的可靠性值是對(duì)已經(jīng)發(fā)生的失效位元以及冗余電路中新失效位元所在的冗余電路的關(guān)系進(jìn)行大數(shù)據(jù)分析得到的,通過該方法為子域中失效位元分配的冗余電路的可靠性高,從而提高了失效位元的修補(bǔ)效率和修補(bǔ)準(zhǔn)確率。
聲明:
“失效位元的修補(bǔ)方案的確定方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)