本發(fā)明公開了一種比特失效模式統(tǒng)計(jì)方法及裝置,將獲取的待處理存儲(chǔ)器
芯片單元的比特失效的原始數(shù)據(jù)利用Perl腳本進(jìn)行分析和計(jì)算,不僅極大的降低了生產(chǎn)成本,又能夠快速的統(tǒng)計(jì)出每批產(chǎn)品的比特失效模式結(jié)果,從而直觀的展現(xiàn)出何種比特失效模式對(duì)產(chǎn)品的良率有著較大的影響,也就能夠直指工藝缺陷,有利于有目的的改善制造工藝。
聲明:
“比特失效模式統(tǒng)計(jì)方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)