本發(fā)明屬于大氣薄液膜環(huán)境下涂層老化失效研究技術(shù)領(lǐng)域,涉及一種大氣薄液膜環(huán)境下涂層老化失效評(píng)價(jià)方法。本發(fā)明是采用32位ARM和高速ADDA轉(zhuǎn)換器,研制了一款低功耗的8通道涂層老化在線監(jiān)測(cè)儀器,該涂層老化在線監(jiān)測(cè)儀主要用于測(cè)量飛機(jī)涂層的保護(hù)性能,可實(shí)現(xiàn)開路電位、恒電位極化和交流阻抗譜等多種測(cè)試方法,為了測(cè)量暴露在大氣環(huán)境中的涂層老化狀態(tài),研制了一款基于同材質(zhì)的三電極阻抗監(jiān)測(cè)探頭,可實(shí)現(xiàn)大氣中涂層老化狀態(tài)的在線測(cè)試。
聲明:
“大氣薄液膜環(huán)境下涂層老化失效評(píng)價(jià)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)