本發(fā)明提供一種高效的晶圓連續(xù)失效
芯片數(shù)量統(tǒng)計(jì)算法,包括:步驟一、初始化所有坐標(biāo),二、得到初始化為全0的矩陣A,三、測(cè)試完一個(gè)芯片后,將矩陣A對(duì)應(yīng)位置設(shè)置成0或者1,1表示失效,如果是1則運(yùn)算此芯片周圍的8個(gè)芯片,四、情況一:8個(gè)芯片都不在連續(xù)失效芯片隊(duì)列中,則此時(shí)連續(xù)失效芯片的數(shù)量為N+1,情況二:芯片中有M個(gè)在連續(xù)失效芯片隊(duì)列Q1中,有N個(gè)在Q2中,則從Q1,Q2中各取出一個(gè)芯片記作Die1,Die2,則連續(xù)失效芯片的數(shù)量為V(Die1)+V(Die2)+1,情況三:M個(gè)孤立,N個(gè)在隊(duì)列Q1中,此時(shí)連續(xù)失效芯片的數(shù)量為M+V(Die1)+1。本發(fā)明能有效提高監(jiān)控和操作效率,提高監(jiān)視的便利性。
聲明:
“高效的晶圓連續(xù)失效芯片數(shù)量統(tǒng)計(jì)算法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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