本發(fā)明涉及一種微控制器總劑量輻照失效單元實驗判定系統(tǒng)及方法,所述實驗判定系統(tǒng)包括被測微控制器、數(shù)據(jù)采集單元、通訊和供電單元、上位機、準直定位照射單元、跟隨劑量計和屏蔽體;所述實驗判定方法采用同一型號、同一批次的微控制器分為三組實驗樣品,進行單一變量控制實驗。本發(fā)明提供的微控制器總劑量輻照失效單元實驗判定系統(tǒng)及方法能夠通過控制單一實驗變量來分辨微控制器的內(nèi)部失效單元,確定微控制器的輻照敏感部位,彌補傳統(tǒng)功能校驗方法的不足。
聲明:
“微控制器總劑量輻照失效單元實驗判定系統(tǒng)及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)