本實(shí)用新型公開(kāi)了一種半導(dǎo)體檢測(cè)用四探針,包括本體,所述本體的上端固定安裝有絕緣板,所述絕緣板上端的中部固定安裝有測(cè)試板,所述本體后端的中部固定安裝有支架,所述支架的前端延伸至測(cè)試板上方,所述絕緣板上端的左端固定安裝有控制臺(tái),所述控制臺(tái)的上端固定安裝有數(shù)示屏,所述數(shù)示屏的下端嵌入在控制臺(tái)的內(nèi)部,所述數(shù)示屏的上端與控制臺(tái)的上端為同一平面。該半導(dǎo)體檢測(cè)用四探針,通過(guò)安裝壓力傳感器可在對(duì)半導(dǎo)體進(jìn)行檢測(cè)時(shí)可對(duì)測(cè)試頭下探的壓力進(jìn)行探測(cè),避免下探壓力過(guò)大將半導(dǎo)體原件造成損傷,使得測(cè)試數(shù)據(jù)失效,有效的提高了測(cè)試的精度,且對(duì)半導(dǎo)體原件進(jìn)行保護(hù),同時(shí)使測(cè)試更加的便捷,有效的增加了測(cè)試效率。
聲明:
“半導(dǎo)體檢測(cè)用四探針” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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