本發(fā)明提供了一種測(cè)試方法、測(cè)試系統(tǒng)、電子設(shè)備和可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其中測(cè)試方法包括:對(duì)所述半導(dǎo)體器件進(jìn)行第一測(cè)試;根據(jù)所述第一測(cè)試的第一測(cè)試結(jié)果,將所述多個(gè)功能單元分為有效單元和失效單元;判斷所述半導(dǎo)體器件上具有所述失效單元的區(qū)域是否為特定失效區(qū)域;若是,將部分有效單元標(biāo)記為待定單元,所述部分有效單元鄰近所述特定失效區(qū)域內(nèi)的失效單元,并確定所述待定單元中是否具有早期失效單元,進(jìn)而可以快速地篩選出半導(dǎo)體器件上的早期失效單元,進(jìn)而不必通過對(duì)每個(gè)有效單元進(jìn)行可靠性測(cè)試,來篩選出半導(dǎo)體器件上的早期失效單元,不僅縮短了篩選時(shí)間、提高了篩選效率,而且降低了篩選成本。
聲明:
“測(cè)試方法、測(cè)試系統(tǒng)、電子設(shè)備和可讀存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)