本發(fā)明公開了一種
光伏組件長(zhǎng)期耐候性能測(cè)試方法,具體為,準(zhǔn)備典型的局部漏電、微裂紋、低并聯(lián)電阻3種缺陷類型的電池樣品并封裝成小組件,將小組件放入環(huán)境箱,設(shè)置環(huán)境箱分別進(jìn)行高溫高濕老化與高低溫循環(huán)老化實(shí)驗(yàn),實(shí)驗(yàn)過程中,采用電致發(fā)光設(shè)備和鎖相紅外熱成像測(cè)試設(shè)備測(cè)試并計(jì)算實(shí)驗(yàn)小組件中電池缺陷處的局部IV性能;根據(jù)實(shí)驗(yàn)結(jié)果分析實(shí)驗(yàn)小組件整體電性能衰減與缺陷處局部電性能衰減,分析光伏組件的長(zhǎng)期耐候性能。本發(fā)明采用ANSYS軟件模擬不同老化時(shí)間點(diǎn)的微缺陷組件,輻照分布不均勻度與漏電流分布類型組合條件下熱斑電池溫度分布,分析電池最嚴(yán)重?zé)岚弋a(chǎn)生條件與高溫失效概率,提高光伏組件的可靠性。
聲明:
“光伏組件長(zhǎng)期耐候性能測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)