本發(fā)明涉及自動(dòng)測量PCIE眼圖的方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),該方法,包括:獲取主機(jī)下發(fā)的讀命令;解析讀命令,得到命令參數(shù);根據(jù)命令參數(shù)啟動(dòng)眼圖測試電路,然后獲取眼圖數(shù)據(jù);根據(jù)眼圖數(shù)據(jù)計(jì)算出眼高眼寬數(shù)據(jù),并將眼高眼寬數(shù)據(jù)返回至主機(jī)。本發(fā)明通過在SSD固件實(shí)現(xiàn)眼圖測量分析,為產(chǎn)線測試及客戶端的失效分析,提供了方便快捷的眼圖分析工具,能夠更好地滿足需求。
聲明:
“自動(dòng)測量PCIE眼圖的方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)