本發(fā)明公開了一種存儲器故障診斷的可測試性電路,包括:控制電路,輸入端和多個外加電壓相連,輸出端輸出操作電壓,操作電壓由外加電壓或其變化值得到;操作電壓輸入到存儲器的電源電壓端。存儲器的故障診斷模式包括讀取失效驗證模式和寫入失效驗證模式。讀取失效驗證模式的寫入和讀取操作模式的操作電壓分別具有第一和第二電壓值。第一電壓值大于第二電壓值寫入失效驗證模式的寫入和讀取操作模式的操作電壓分別具有第三和第四電壓值。第三電壓值大于第四電壓值。本發(fā)明還提供一種操作電壓變換電路。本發(fā)明能在存儲器故障診斷過程為寫入和讀取操作提供所需要的不同操作電壓,從而有利于進行讀取失效驗證和寫入失效驗證分析。
聲明:
“存儲器故障診斷的可測試性電路和操作電壓變換電路” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)