本發(fā)明公開了一種基于多個電參數(shù)的IGBT模塊鍵合線狀態(tài)監(jiān)測評估方法,基于多個電參數(shù)下的IGBT模塊鍵合線狀態(tài)監(jiān)測評估模型,通過分析鍵合線的失效與電參數(shù)變化的關(guān)系,在搭建的實驗平臺的基礎(chǔ)上測量鍵合線不同的失效狀態(tài)下的導(dǎo)通壓降、米勒平臺電壓、米勒平臺電壓持續(xù)時間、閾值電壓,得到的數(shù)據(jù)集,利用BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)建立的狀態(tài)監(jiān)測評估模型,可以達到92.31%的預(yù)測準確率。本發(fā)明為評估IGBT模塊的健康狀態(tài)提供了具有極高的參考價值。打破了單一變量監(jiān)測鍵合線健康狀態(tài)的局限性。
聲明:
“基于多個電參數(shù)的IGBT模塊鍵合線狀態(tài)監(jiān)測評估方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)