本發(fā)明提供了一種測試電路、陣列基板、顯示面板及測試方法,在陣列基板的非顯示區(qū)上設(shè)置多個測試電路,每個測試電路包括晶體管以及與晶體管并聯(lián)的光致導(dǎo)通器件,晶體管的柵極與一開關(guān)信號相連接,晶體管的第一電極與一數(shù)據(jù)信號相連接,晶體管的第二電極與所述陣列基板的顯示區(qū)的某一數(shù)據(jù)線相連接,光致導(dǎo)通器件的兩端分別連接至第一電極與第二電極,通過采用點光源照射光致導(dǎo)通器件,使得晶體管的第一電極與第二電極導(dǎo)通,即數(shù)據(jù)信號傳輸至陣列基板顯示區(qū)域的數(shù)據(jù)線內(nèi),由此判斷數(shù)據(jù)線與顯示區(qū)內(nèi)的其他信號線之間是否存在短路,能夠快速判斷不良失效模式,從而提高了測試效率,節(jié)省了測試時間,提高了產(chǎn)品的良率。
聲明:
“測試電路、陣列基板、顯示面板及測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)