本發(fā)明屬于光學(xué)元件性能測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,公開(kāi)了一種表征塑料光學(xué)元件膜層附著力的測(cè)試方法及測(cè)試裝置,其中的一種表征塑料光學(xué)元件膜層附著力的測(cè)試方法,包括以下方法:提供一長(zhǎng)條狀且與待表征光學(xué)基片材質(zhì)相同的陪鍍片,陪鍍片具有適于鍍膜的鍍膜面;將陪鍍片的一端固定且另一端懸空,使其呈懸挑狀態(tài);在陪鍍片的上方設(shè)置光源和CCD信號(hào)采集器,CCD信號(hào)采集器位于光源光經(jīng)陪鍍片上膜層反射后的反射路徑上。本發(fā)明可適用于對(duì)PC、PMMA等塑料光學(xué)元件的薄膜附著力的評(píng)價(jià)和測(cè)試,為光學(xué)注塑和鍍膜工藝提供一種新的評(píng)價(jià)視角,有望減少產(chǎn)品膜層起泡、脫落等失效現(xiàn)象的發(fā)生。
聲明:
“表征塑料光學(xué)元件膜層附著力的測(cè)試方法及測(cè)試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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