本發(fā)明提供一種以高效率管理測(cè)試結(jié)果為目的的測(cè)試裝置,該測(cè)試裝置包括:測(cè)試被測(cè)試存儲(chǔ)器的各單元的測(cè)試部;對(duì)應(yīng)被測(cè)試存儲(chǔ)器的各單元,在失效存儲(chǔ)器中保存表示該單元好壞的失效信息的失效信息保存部;對(duì)被測(cè)試存儲(chǔ)器具有的每個(gè)塊,計(jì)數(shù)在該塊內(nèi)中被檢測(cè)出的不良單元的數(shù)目的計(jì)數(shù)部;塊接收要求讀出塊所包含的各單元的失效信息的讀出要求接收部;將讀出目標(biāo)塊內(nèi)的不良單元的數(shù)和預(yù)先被確定的基準(zhǔn)數(shù)進(jìn)行比較的比較部;把讀出目標(biāo)塊內(nèi)的不良單元的數(shù)超過基準(zhǔn)數(shù)作為條件,為了對(duì)讀出要求回信,將包含讀出目標(biāo)塊內(nèi)的各單元的失效信息的回信數(shù)據(jù)列中,連續(xù)的復(fù)數(shù)的失效信息轉(zhuǎn)換成表示品質(zhì)不良的值的變換部;以及回信數(shù)據(jù)列壓縮后回信的壓縮部。
聲明:
“測(cè)試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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