本發(fā)明提供一種激光二極管陣列的老化篩選測試系統(tǒng)及方法,包括激光二極管陣列驅(qū)動模塊、溫度控制模塊、老化模塊、篩選測試模塊和用于控制激光二極管陣列的工作條件并采集、記錄篩選測試模塊測試結(jié)果的計(jì)算機(jī)控制采集模塊,篩選測試模塊包括電光特性測試模塊、光譜測試模塊、遠(yuǎn)場測試模塊、近場測試模塊和鏡檢模塊。本發(fā)明包含近場發(fā)光點(diǎn)測試及鏡檢測試功能及激光二極管陣列老化后的測試篩選,實(shí)現(xiàn)了激光二極管陣列的全參數(shù)篩選測試,并且通過老化測試,對老化前后的激光二極管陣列電光特性、光譜、遠(yuǎn)場、近場發(fā)光點(diǎn)及發(fā)光面的膜層鏡檢,可以盡早發(fā)現(xiàn)激光二極管陣列缺陷,排除激光二極管陣列早期失效問題,提高星載領(lǐng)域的激光二極管陣列的穩(wěn)定性。
聲明:
“激光二極管陣列的老化篩選測試系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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