本發(fā)明公開了一種集成電路自動控制測試方法,為一種機(jī)械結(jié)構(gòu)和算法的結(jié)合,首先需要對handler內(nèi)部進(jìn)行結(jié)構(gòu)的改造,增加失效復(fù)測區(qū)(E)和一移動機(jī)械臂(F),將需要復(fù)測的BIN放置由原來位置移動到失效復(fù)測區(qū)域,在完成第一次測試后,將失效復(fù)測區(qū)域的
芯片通過機(jī)械臂又放置在待測區(qū)域,從而實(shí)現(xiàn)自動復(fù)測的目的,減少人工重新放置和測試機(jī)停機(jī)的時(shí)間。
聲明:
“集成電路自動控制測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)