本發(fā)明實施例提供了一種測試存儲器的方法和裝置,存儲器包括自測試控制器,方法包括:將存儲器與第一測試設備連接,通過第一測試設備發(fā)送啟動自測試指令至存儲器;通過自測試控制器確定存儲器的各待測試功能,并根據(jù)各待測試功能對存儲器進行循環(huán)測試,直至循環(huán)次數(shù)等于預設最大測試次數(shù);將存儲器與第二測試設備連接,通過第二測試設備對存儲器進行全功能測試,并當任一功能測試失敗時,判斷存儲器失效。本發(fā)明實施例不僅簡化了老化測試流程,提高了老化測試的便利性和批量生產(chǎn)存儲器時的產(chǎn)出效率,還大幅降低了老化測試對測試設備的要求,進而降低了產(chǎn)品老化測試成本。
聲明:
“測試存儲器的方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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