本發(fā)明屬于集成電路設(shè)計(jì)技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種適用于IGBT驅(qū)動(dòng)芯片的過(guò)熱保護(hù)電路，包括溫度檢測(cè)電路、信號(hào)整形電路和遲滯閾值控制電路；溫度檢測(cè)電路用于檢測(cè)IGBT驅(qū)動(dòng)芯片溫度，信號(hào)整形電路的輸入端與溫度檢測(cè)電路的輸出端相連，遲滯閾值控制電路的輸入端與信號(hào)整形電路的輸出端相連，信號(hào)整形電路的輸出端還作為該過(guò)熱保護(hù)電路與IGBT驅(qū)動(dòng)芯片開啟/關(guān)斷控制端相連的接口；溫度檢測(cè)電路的輸入端與遲滯閾值控制電路的輸出端相連；本發(fā)明提供的這種過(guò)熱保護(hù)電路，采用純CMOS電路設(shè)計(jì)，能夠與標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝兼容，并能夠精確地檢測(cè)IGBT驅(qū)動(dòng)芯片的結(jié)溫，當(dāng)IGBT驅(qū)動(dòng)芯片的結(jié)溫超出閾值時(shí)生成一個(gè)邏輯信號(hào)控制IGBT驅(qū)動(dòng)芯片關(guān)斷，從而保護(hù)IGBT驅(qū)動(dòng)芯片防止其因?yàn)檫^(guò)熱而失效。