本申請涉及一種備用電路分派方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì),所述方法包括:執(zhí)行第一測試項目,獲取第一測試數(shù)據(jù),第一測試數(shù)據(jù)包括執(zhí)行第一測試項目期間獲取的失效位元的位置數(shù)據(jù);根據(jù)第一測試數(shù)據(jù)確定包括已分派的地域備用電路的數(shù)量和對應(yīng)的位置數(shù)據(jù)的第一次備用電路分派結(jié)果;執(zhí)行第二測試項目,獲取包括執(zhí)行第二測試項目期間獲取的失效位元的位置數(shù)據(jù)的第二測試數(shù)據(jù);當(dāng)執(zhí)行第二測試項目期間獲取的失效位元包括已分派的地域備用電路及已分派的全域備用電路的修補范圍之外的失效位元,且已分派完可分派的地域備用電路時,根據(jù)第一測試數(shù)據(jù)和第二測試數(shù)據(jù)確定第二次備用電路分派結(jié)果。以提高備用電路的利用效率及存儲
芯片良率。
聲明:
“備用電路分派方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)