本發(fā)明公開了一種加速度傳感器
芯片生產(chǎn)校驗補償方法,加速度傳感器芯片生產(chǎn)校驗補償方法旨在用于加速度傳感器芯片批量生產(chǎn)測試,加速度傳感器芯片生產(chǎn)校驗補償方法是用校準過的成品加速度傳感器芯片做參考,成品加速度傳感器芯片和待測成品矩陣排列放在特定旋轉轉臺以特定的狀態(tài)運行環(huán)境下,通過采樣對加速度傳感器芯片的ADC輸出,并與參考加速度傳感器芯片的輸出作對比和運算,將要校準的參數(shù)寫入待測加速度傳感器芯片內(nèi)的存儲區(qū),再讀取加速度傳感器芯片的ADC輸出,再對比判斷該待測成品是否校準成功,如果校準不成功,則當該顆待測成品為失效電路。測試設備根據(jù)該方法一次能夠并行測試多顆電路。
聲明:
“加速度傳感器芯片生產(chǎn)校驗補償方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)