本實(shí)用新型公開了一種帶結(jié)溫監(jiān)控高溫反偏的電路控制結(jié)構(gòu),包括作為主體的高溫反偏測(cè)試電路,所述的高溫反偏測(cè)試電路包括被測(cè)二極管D1、開關(guān)K1、開關(guān)K2、電阻R1和電壓源VR,所述的被測(cè)二極管D1的兩端接有結(jié)溫監(jiān)控測(cè)試電路,所述的結(jié)溫監(jiān)控測(cè)試電路包括開關(guān)K3、開關(guān)K4和電流源Im。本實(shí)用新型克服了傳統(tǒng)的二極管高溫反偏試驗(yàn)中由于沒有設(shè)置結(jié)溫監(jiān)控導(dǎo)致在試驗(yàn)中易出現(xiàn)器件失效的風(fēng)險(xiǎn)的問題。本實(shí)用新型具有采集數(shù)據(jù)方便、計(jì)算數(shù)據(jù)方便和測(cè)量精度較高等優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“帶結(jié)溫監(jiān)控高溫反偏的電路控制結(jié)構(gòu)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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